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射頻導(dǎo)納常見故障有哪些
2017-07-01
目前工業(yè)上應(yīng)用的料位開關(guān)種類繁多,射頻導(dǎo)納料位開關(guān)因測量不受介質(zhì)密度影響、結(jié)構(gòu)簡單可靠、耐高溫等優(yōu)點(diǎn)而被廣泛選用。盡管射頻導(dǎo)納料位開關(guān)有著諸多優(yōu)點(diǎn),但市面上的射頻導(dǎo)納料位開關(guān)在應(yīng)用中也會(huì)出現(xiàn)各種故障,其常見故障有下面幾點(diǎn):
一是探頭上物料變化時(shí),儀表無響應(yīng)。
出現(xiàn)這種現(xiàn)象有可能是下面四種原因引起的:
①靈敏度調(diào)節(jié)過高或者過低。當(dāng)靈敏度調(diào)節(jié)過高時(shí),探頭上無物料覆蓋時(shí)易引起有料的誤報(bào)警;當(dāng)靈敏度調(diào)節(jié)過低時(shí),探頭上有物料覆蓋時(shí)儀表則易出現(xiàn)無報(bào)警輸出的現(xiàn)象。
②儀表周圍出現(xiàn)強(qiáng)電磁干擾。探頭感知電抗的變化,當(dāng)強(qiáng)電磁場出現(xiàn)時(shí),電抗產(chǎn)生紊亂,從而造成儀表無響應(yīng)或者頻繁報(bào)警。
③電子模塊松動(dòng)導(dǎo)致與探頭未接觸,造成探頭上的電抗變化無法傳送至電子模塊。
④探頭測量極接觸到料倉壁。當(dāng)探頭接觸到料倉壁時(shí),儀表測量料倉壁的電抗,此時(shí)探頭上再有物料變化時(shí),儀表無任何響應(yīng)。
二是輸出信號(hào)頻繁變換。
這種故障可能由以下兩點(diǎn)原因引起:
?、凫`敏度處于臨界狀態(tài)。靈敏度調(diào)節(jié)處于臨界狀態(tài)時(shí),儀表工作在非穩(wěn)態(tài),導(dǎo)致信號(hào)不停變化。
?、诠摅w內(nèi)物料波動(dòng)頻繁。罐體內(nèi)物料波動(dòng)時(shí),探頭上感知的電抗時(shí)刻變化,將導(dǎo)致信號(hào)不停變化。
一是探頭上物料變化時(shí),儀表無響應(yīng)。
出現(xiàn)這種現(xiàn)象有可能是下面四種原因引起的:
①靈敏度調(diào)節(jié)過高或者過低。當(dāng)靈敏度調(diào)節(jié)過高時(shí),探頭上無物料覆蓋時(shí)易引起有料的誤報(bào)警;當(dāng)靈敏度調(diào)節(jié)過低時(shí),探頭上有物料覆蓋時(shí)儀表則易出現(xiàn)無報(bào)警輸出的現(xiàn)象。
②儀表周圍出現(xiàn)強(qiáng)電磁干擾。探頭感知電抗的變化,當(dāng)強(qiáng)電磁場出現(xiàn)時(shí),電抗產(chǎn)生紊亂,從而造成儀表無響應(yīng)或者頻繁報(bào)警。
③電子模塊松動(dòng)導(dǎo)致與探頭未接觸,造成探頭上的電抗變化無法傳送至電子模塊。
④探頭測量極接觸到料倉壁。當(dāng)探頭接觸到料倉壁時(shí),儀表測量料倉壁的電抗,此時(shí)探頭上再有物料變化時(shí),儀表無任何響應(yīng)。
二是輸出信號(hào)頻繁變換。
這種故障可能由以下兩點(diǎn)原因引起:
?、凫`敏度處于臨界狀態(tài)。靈敏度調(diào)節(jié)處于臨界狀態(tài)時(shí),儀表工作在非穩(wěn)態(tài),導(dǎo)致信號(hào)不停變化。
?、诠摅w內(nèi)物料波動(dòng)頻繁。罐體內(nèi)物料波動(dòng)時(shí),探頭上感知的電抗時(shí)刻變化,將導(dǎo)致信號(hào)不停變化。
深圳計(jì)為自動(dòng)化技術(shù)有限公司通過對(duì)應(yīng)用環(huán)境的深入了解,研發(fā)生產(chǎn)了Cape-11A通用型射頻導(dǎo)納料位開關(guān)、Cape-11P防護(hù)型射頻導(dǎo)納料位開關(guān)、Cape-11R纜繩型射頻導(dǎo)納料位開關(guān)、Cape-11H超高溫型射頻導(dǎo)納料位開關(guān)共四個(gè)系列的產(chǎn)品,并采用自主工藝提高了射頻導(dǎo)納料位開關(guān)的可靠性,推出市場以來備受用戶青睞。
(深圳計(jì)為自動(dòng)化技術(shù)有限公司市場部2017年7月1日發(fā)布)
TAGS : 射頻導(dǎo)納
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